檢索結果：共8筆資料 檢索策略： "陳俊良".ccommittee (精準) and cadvisor.raw="呂學坤"
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本論文的主題在於探討容誤技術 (Error-Tolerance, ET)，由於現在VLSI 製程的演進使得元件尺寸大幅下降，但也因此在製造過程中發生瑕疵的機率也隨之提昇而使得良率變低。而容誤是一種應…
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現今，因資料密集性的應用，有著越來越多的矽智財被整合至SoC設計中。然而，傳統匯流排架構可能無法提供足夠的頻寬、延遲時間以及平行性。晶片網路源自於大型電腦網路的概念，是種新興的設計範式。其提供高頻寬…
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隨著製程進步電晶體縮小，使得記憶體密度提高之外，也造成良率與可靠度的下降，提升良率與可靠度也是先進記憶體有待改善的共同課題。本篇論文針對兩種新興的記憶體组 NROM 及 PCM 提出良率與可靠度的改…
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錯誤修正碼與內建自我修復 (BISR) 技術被廣泛的用來改善記憶體良率與可靠度。而這兩個技術主要處理的錯誤與瑕疵分別為永久瑕疵 (硬錯誤) 與軟錯誤。在過去有許多研究探討如何使用錯誤修正碼與 BIS…
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隨著製程技術發展，單一晶片上電晶體數目越來越多，導致積體電路發展速度逐漸緩慢，利用矽穿孔技術的三維積體電路提供了有效的方式可以解決此問題，可以縮短訊號傳輸的距離、使晶片密度降低及提高晶片整體效能。由…
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影像編碼技術 H.264/AVC 採用了許多新方法使得編碼效率比之前的標準提升至少50%，因此已成為主流的編碼方式。但新的方法也大幅增加編碼的運算量與複雜度。以 HDTV 規格為例，整個視訊編碼過程…
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針對記憶體中的故障細胞，除了只使用備用行或備用列來取代之外，錯誤更正碼也被認為是一種有效率的修復技術。錯誤更正碼若被用來處理永久性的故障 (Permanent Faults)，記憶體在製程上的良率與…
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隨著半導體製程技術的進步，系統晶片 (SOC) 中使用的嵌入式記憶體容量與密度越來越高，而導致記憶體故障更容易發生。因此，記憶體的良率很大程度決定系統晶片的良率。單一位元故障占所有故障形態比例最高，…